日立掃描電子顯微鏡 儘管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡☁₪，仍可實現4.0 nm的解析度
憑藉*的高靈敏度二次電子│₪₪↟、背散射電子檢測器│₪₪↟、低真空檢測器（UVD*2）☁₪，可在低加速/低真空下觀察時實現最高的畫質
全新的使用者介面☁₪，無論使用者的熟練程度如何☁₪，都可實現高畫質和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP"☁₪，支援觀察時的視野搜尋和樣品定位
大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器☁₪，可快速進行元素分析*2
*1
設定到桌面上時☁₪，請將機體與電源盒分離
*2
選項
小型高效能色譜柱
尺寸雖小☁₪，卻具備同類產品中最高的解析度☁↟。
金顆粒沉積
加速電壓╃✘：20 kV
倍率╃✘：60,000倍
訊號╃✘：SE
解析度╃✘：4 nm
金顆粒沉積
加速電壓╃✘：20 kV
倍率╃✘：50,000倍
訊號╃✘：BSE
解析度╃✘：5 nm
高畫質
配備可最佳化放射電流的功能☁₪，以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度☁₪，而獲得噪點小且清晰的影象☁↟。
儲氫合金
加速電壓╃✘：5 kV
倍率╃✘：30,000倍
訊號╃✘：SE│₪₪↟、無金屬塗層
Al-Ni複合材料
加速電壓╃✘：3 kV
倍率╃✘：10,000倍
訊號╃✘：BSE│₪₪↟、無金屬塗層
可用高畫質和快速觀察
搭載GUI和自動調節功能☁₪，讓初學者也能得心應手☁↟。只要按一下自動對焦（AFC）│₪₪↟、自動亮度調節（ABCC）按鈕☁₪，就可以獲得最佳的影象☁↟。（自動調節╃✘：與以往相比☁₪，縮短時間約13秒*3）當然☁₪，也可以透過觸屏進行操作☁↟。
*3
對比日立SEM SU1510
全新定位系統“SEM MAP"
“SEM MAP"功能可有效實現觀察時的視野搜尋和樣品定位☁↟。根據內建攝像頭所拍攝的影象☁₪，定位樣品☁₪，一鍵點選即可移動到觀察部位☁↟。
在SEM MAP上匯入的影象會自動進行貼上☁₪，並以分佈圖的形式顯示☁↟。
可放置在桌面上的緊湊型電子顯日立掃描電子顯微鏡 微鏡
寬幅僅為45釐米☁₪，緊湊型設計☁₪，地減小佔用空間☁↟。機體僅支援AC100 V 3P電源插座☁↟。此外☁₪，機體和電源盒可以分離☁₪，從而大幅度提升諸如桌面設定等的佈局靈活性☁↟。
FlexSEM 1000 II
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