10PA漏電同軸探針夾具 CINDBEST TH-10 同軸探針夾具 漏電精度10PA☁╃，接BNC公介面

型號·↟↟••：GZ-100

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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100fA漏電精度三軸夾具CINDBEST GZ-100/TH-100 三軸管狀/彈簧夾具 ☁╃， 漏電精度高達100fA☁╃， 建議搭配CB-40-T等級或以上探針座使用╃•▩✘。

型號·↟↟••：GZ-100管狀探針

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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RF探針座 RF探針座適宜配合高頻探針使用☁╃， CB-100以及CB-150均可做射頻探針座.

型號·↟↟••：CB-150-RF

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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-10μm精度探針座 精密機加工滑翔確保運動線性 高剛性結構☁╃，彈簧載荷 線性移動☁╃，磁性吸附

型號·↟↟••：CB-40

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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適用於I-V/C-V測試的微型定位器

型號·↟↟••：CB-40

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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CINDBEST CB-100| 精密I-V/C-V/RF微米級測試級定位器 0.7μm精度探針座特點/應用 ◆ 適用於I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器 ◆ 高剛性結構☁╃，彈簧消隙X-Y-Z☁╃，穩定無間隙 ◆ 線性☁╃，無後座力移動☁╃，磁性吸附/真空吸附 ◆ 30度傾仰調節機構 ◆ 可搭配同軸/三軸探針夾具使用◆ 射頻測試能力直流到40GHz~120GHz ◆ 瑞士製造精密

型號·↟↟••：CB-100

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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微米級測試級定位器 0.5um精度探針座適用於I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器

型號·↟↟••：CINDBEST CB-150|

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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CBTZ半自動探針臺 CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試☁╃， 操作簡單☁╃，快捷☁╃，測試精度高☁╃，具有MAP顯示功能╃•▩✘。 與測試儀連線後☁╃，能自動完成對各種電晶體芯的電引數測試及功能測試

型號·↟↟••：CBTZ

更新日期·↟↟••：2022-02-24

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