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- GZ-10010PA漏電同軸探針夾具
10PA漏電同軸探針夾具 CINDBEST TH-10 同軸探針夾具 漏電精度10PA☁╃,接BNC公介面
- 型號·↟↟••:GZ-100
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議
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- GZ-100管狀探針100fA漏電精度三軸夾具
100fA漏電精度三軸夾具CINDBEST GZ-100/TH-100 三軸管狀/彈簧夾具 ☁╃, 漏電精度高達100fA☁╃, 建議搭配CB-40-T等級或以上探針座使用╃•▩✘。
- 型號·↟↟••:GZ-100管狀探針
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議
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- CB-150-RFRF探針座
RF探針座 RF探針座適宜配合高頻探針使用☁╃, CB-100以及CB-150均可做射頻探針座.
- 型號·↟↟••:CB-150-RF
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議
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- CB-4010μm精度探針座
-10μm精度探針座 精密機加工滑翔確保運動線性 高剛性結構☁╃,彈簧載荷 線性移動☁╃,磁性吸附
- 型號·↟↟••:CB-40
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議
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- CB-1000.7μm精度探針座
CINDBEST CB-100| 精密I-V/C-V/RF微米級測試級定位器 0.7μm精度探針座特點/應用 ◆ 適用於I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器 ◆ 高剛性結構☁╃,彈簧消隙X-Y-Z☁╃,穩定無間隙 ◆ 線性☁╃,無後座力移動☁╃,磁性吸附/真空吸附 ◆ 30度傾仰調節機構 ◆ 可搭配同軸/三軸探針夾具使用◆ 射頻測試能力直流到40GHz~120GHz ◆ 瑞士製造精密
- 型號·↟↟••:CB-100
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議
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- CINDBEST CB-150|0.5um精度探針座
微米級測試級定位器 0.5um精度探針座適用於I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器
- 型號·↟↟••:CINDBEST CB-150|
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議
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- CBTZ半自動探針臺
CBTZ半自動探針臺 CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試☁╃, 操作簡單☁╃,快捷☁╃,測試精度高☁╃,具有MAP顯示功能╃•▩✘。 與測試儀連線後☁╃,能自動完成對各種電晶體芯的電引數測試及功能測試
- 型號·↟↟••:CBTZ
- 更新日期·↟↟••:2022-02-24 ¥面議